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高壓開(kāi)關(guān)參數(shù)特性分析儀校驗(yàn)裝置主要特點(diǎn)一、綜合校驗(yàn)裝置（時(shí)間測(cè)量部分）
1、概述：
本儀器能產(chǎn)生高精度、寬范圍的定時(shí)信號(hào)，并能模擬高壓斷路器的動(dòng)作，可用于校驗(yàn)和檢測(cè)高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀的時(shí)間基準(zhǔn)及時(shí)間測(cè)量功能。
2、主要技術(shù)指標(biāo)和使用條件：
2.1 本裝置有12路觸頭輸出，可同時(shí)模擬12個(gè)高壓斷路器觸頭。
2.2 高壓斷路器合閘或分閘時(shí)間可在 0.01－800mS范圍內(nèi)任意設(shè)置。
2.3 分辨率：10微秒。
2.4 精 度：0.01%。
2.5 彈跳脈沖個(gè)數(shù)可在 0－20 個(gè)范圍內(nèi)任意設(shè)置。
2.6 支持不同期測(cè)試。
2.7 支持內(nèi)部觸發(fā)、外部觸發(fā)、有源觸發(fā)、無(wú)源觸發(fā)。
2.8 環(huán)境溫度：10－30度
2.9 環(huán)境濕度：小于85％
高壓開(kāi)關(guān)參數(shù)特性分析儀校驗(yàn)裝置主要特點(diǎn)3、時(shí)間校準(zhǔn)裝置外觀結(jié)構(gòu)：
高壓開(kāi)關(guān)參數(shù)特性分析儀校驗(yàn)裝置主要特點(diǎn)4、工作原理簡(jiǎn)介：
時(shí)間校準(zhǔn)裝置電路劃分為：觸發(fā)電路、高速可預(yù)置計(jì)數(shù)器電路、高精度晶體振蕩電路、單片機(jī)控制電路、輸出控制電路，如圖（1）所示。
4.2 該時(shí)間校準(zhǔn)裝置的特點(diǎn)是：
4.2.1 實(shí)時(shí)性強(qiáng)，裝置努力做到了觸發(fā)實(shí)時(shí)，計(jì)數(shù)實(shí)時(shí)，輸出實(shí)時(shí)。為了能實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)，觸發(fā)環(huán)節(jié)采用恒流觸發(fā)，計(jì)數(shù)環(huán)節(jié)采用高速可編程邏輯電路構(gòu)成同步計(jì)數(shù)器，保證計(jì)數(shù)輸出和基準(zhǔn)脈沖同步，輸出電路電路采用晶體管模擬。
4.2.2 采用24M高精度石英晶振，保證基準(zhǔn)脈沖的性和穩(wěn)定性。
高壓開(kāi)關(guān)參數(shù)特性分析儀校驗(yàn)裝置主要特點(diǎn)5、面板主要部分說(shuō)明：
5.1 12路斷口時(shí)間：
模擬高壓斷路器12路觸頭輸出，前6路A1，B1，C1，A2，B2，C2與金屬接地柱共地，后6路A3，B3，C3，A4，B4，C4與黑色插孔共地，稱之為虛地。如果要同時(shí)測(cè)量12路，則要保證兩個(gè)地相連。
5.2 6路合閘電阻：
可模擬帶合閘電阻的高壓開(kāi)關(guān)動(dòng)作，儀器內(nèi)置合閘電阻的投切電阻，電阻值分為100歐，200歐，300歐，300歐，400歐，100歐姆。（阻值可定制）
5.3有源觸發(fā)輸入：
由被校驗(yàn)的高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀提供觸發(fā)電壓，輸入觸發(fā)電壓的范圍為：DC20－280伏。(儀器對(duì)應(yīng)的)
5.4有源外觸發(fā)：
由被校驗(yàn)的開(kāi)關(guān)測(cè)試儀或者多功能測(cè)試臺(tái)提供觸發(fā)電壓，輸入觸發(fā)電壓的范圍為：DC12~150伏左右。用來(lái)觸發(fā)裝置。
5.5 開(kāi)關(guān)量輸入（無(wú)源外觸發(fā)）：
由被試品輸出開(kāi)關(guān)量給裝置（*好是電子開(kāi)關(guān)，普通刀閘會(huì)有彈跳，導(dǎo)致裝置重復(fù)動(dòng)作），主要用于檢測(cè)有時(shí)間測(cè)試要求的其他設(shè)備和本裝置送檢使用。
使用具體說(shuō)明：
接好高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀和LYGKC-1000校驗(yàn)裝置的地線和兩者之間相關(guān)的測(cè)試線。然后開(kāi)機(jī)后顯示界面如下：
按鍵盤(pán)上的【確定】鍵進(jìn)入，如下圖示：
按鍵盤(pán)上的【確定】鍵進(jìn)入預(yù)設(shè)的時(shí)間調(diào)整，用上下鍵選擇需要更改的預(yù)設(shè)時(shí)間值，直接按數(shù)字鍵。選擇完畢后按【確定】鍵保存當(dāng)前相的設(shè)置。然后進(jìn)入下一相需要更改的預(yù)設(shè)時(shí)間值，全部更改完畢后按【Esc】鍵退出當(dāng)前的設(shè)置。就可以開(kāi)始測(cè)試了。關(guān)于設(shè)置方法也是一樣。
具體接線：LYGKC-1000校準(zhǔn)裝置紅色接線柱接高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀內(nèi)部直流輸出電源的合閘+，黑色接線柱接電源—，綠色接高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀內(nèi)部直流輸出電源的分閘+。儀器斷口線與校準(zhǔn)裝置對(duì)接。（武漢大洋或者有短路保護(hù)功能的儀器，短路保護(hù)必須先去掉。去掉方法是：按住向下鍵不放，重新開(kāi)機(jī)，儀器屏幕提示“檢測(cè)狀態(tài)，無(wú)輸出短路檢查，釋放按鍵繼續(xù)"）
彈跳設(shè)置，具體方法和時(shí)間設(shè)定相同。合閘彈跳的彈跳次數(shù)設(shè)置為0-20次，分閘無(wú)彈跳，即彈跳次數(shù)必須為0，否則影響分閘測(cè)試時(shí)間。
觀察LYGKC-1000屏幕下端的斷口狀態(tài)，如果是分，則此時(shí)直接操作被校準(zhǔn)高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀進(jìn)行合閘測(cè)試（如果是合。則此時(shí)直接操作被校準(zhǔn)高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀進(jìn)行分閘測(cè)試）， LYGKC-1000校準(zhǔn)裝置動(dòng)作，等待幾秒鐘，被測(cè)試高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀會(huì)出現(xiàn)相應(yīng)的波形和時(shí)間、同期、彈跳等數(shù)據(jù)。注意：操作一次后，必須等到LYGKC-1000的端口狀態(tài)變化了，才能再次操作測(cè)試，否則會(huì)出現(xiàn)錯(cuò)誤。內(nèi)有保護(hù)電路，不會(huì)損壞裝置。
設(shè)置：觸發(fā)方式：內(nèi)觸發(fā)
觸發(fā)類型：有源觸發(fā)
脈沖輸入：節(jié)點(diǎn)輸入
合閘電阻校準(zhǔn)
操作方法：將面板上的開(kāi)關(guān)撥到標(biāo)準(zhǔn)電阻位置。
阻值表如圖：
測(cè)試方法和時(shí)間測(cè)量一致。只看被試品的阻值測(cè)量值，測(cè)試時(shí)間為模擬時(shí)間。
6、使用注意事項(xiàng)：
6.1 本裝置的開(kāi)關(guān)量輸入，禁止有源接入，否則容易損壞輸出端。
主要特點(diǎn)
嚴(yán)格執(zhí)行的技術(shù)指標(biāo)和國(guó)家供電部門(mén)的統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)。
1. 采用高性能數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)和超大規(guī)模集成電路芯片(VLSI)。提供強(qiáng)大的運(yùn)算處理能力。
2. 具有多種觸發(fā)功能。它可以利用輸入信號(hào)進(jìn)行觸發(fā),也就是說(shuō),輸入通道上一旦有信號(hào)出現(xiàn)則采集裝置會(huì)自動(dòng)觸發(fā),完成記錄采集功能。省掉了外觸發(fā)信號(hào)并且使觸發(fā)信號(hào)與被測(cè)信號(hào)之間的同步問(wèn)題不復(fù)存在。同時(shí),它的內(nèi)觸發(fā)脈沖寬度可以程控調(diào)節(jié),這樣可以避免由于干擾尖脈沖而引起的誤觸發(fā)現(xiàn)象。
3. 高速、高精度的數(shù)據(jù)采樣，可調(diào)的采樣率及采樣時(shí)間(數(shù)據(jù)采樣速度從25us 到 100us可程控設(shè)定)，可適應(yīng)各種測(cè)量的要求。
4. 數(shù)據(jù)記錄時(shí)間長(zhǎng)，可滿足各種開(kāi)關(guān)測(cè)試的要求。
5. 表貼工藝，主要信號(hào)回路配有電磁干擾吸收元件，裝置具備了優(yōu)良的電磁兼容特性，適用于惡劣的電磁環(huán)境，抗干擾能力強(qiáng)。
6. 多采集通道。裝置有3路行程測(cè)量，7路斷口測(cè)量，可同時(shí)3路行程測(cè)量。
7. 自動(dòng)計(jì)算各參數(shù)值，也可手動(dòng)計(jì)算。
8. 越界告警。當(dāng)測(cè)試值超過(guò)預(yù)先設(shè)定的值，自動(dòng)給出告警。
9. 系統(tǒng)自動(dòng)監(jiān)測(cè)開(kāi)關(guān)合分閘狀態(tài)，并在程序框上端顯示出來(lái)。
10. 內(nèi)置操作電源，可直接給開(kāi)關(guān)儲(chǔ)能及操作開(kāi)關(guān)。
11. 各種測(cè)試功能及算法均符合IEC標(biāo)準(zhǔn)。
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